ContourGT
光學輪廓儀系統(tǒng)
ContourGT™集合領先的64-bit,多核操作和分析軟件,專利的白光干涉(WLI)硬件以及史無前例的簡易操作性于一身,是目前最先進的三維光學輪廓儀。這款第十代的光學輪廓儀在大視場上提供快速、埃級到毫米級的垂直測量范圍,并有靈活的樣品設置和行業(yè)領先的重現性。ContourGT是現今生產、研究和質量控制領域中最具綜合性及直觀性的三維輪廓測量系統(tǒng)。
無與倫比的測量性能,行業(yè)最大視場上的最高垂直分辨率
放大倍率0.5×到200×,實現各種不同的表面形狀及材質的
在任何放大倍率下都有亞埃級到毫米級的垂直測量范圍,實現空前的測量靈活性
可選的高分辨率照相機提升橫向分辨率,改善測量的重復性和再現性
優(yōu)秀的測量硬件增強了在工業(yè)環(huán)境下的測量可靠性和重復性
專利的高亮度雙光源照明LED提供卓越的測量質量和放大倍率靈活性
優(yōu)化的硬件設計提高了儀器防震能力和測量重復性及再現性。
精選模式中的擁有專利的自校準技術確保工具間的關聯性和測量準確度及重復性
內置Vision64™的64位多核處理器促進了三維輪廓的測量和分析
新的架構使應用程序數據處理能力獲得了數量級增長
運用多核優(yōu)化和其它技術的并行數據處理方式,使得關鍵計量分析的生產效率提高10倍
無可匹敵的拼接功能可將數以萬計的數據集拼接成一個連續(xù)的圖像
用戶界面直觀性強,自動化程度最高,分析能力最強
簡潔的用戶界面簡化了操作和數據采集,提高系統(tǒng)和操作者的工作效率
獨特的可視化工作流程工具提供各種過濾器及分析菜單的直觀使用途徑
可按用戶特殊需求定制報告的精煉分析數據
適用范圍廣,滿足各種特殊需求
ContourGT具有行業(yè)領先的測量范圍及適應性,能完成從粗糙界面到光滑界面,硬到軟,粘性的、可撓曲或其它難以測量表面的三維形貌精確測量。利用其獨一無二的直觀用戶界面和廣泛的自動功能,ContourGT測量儀能通過自定義來滿足幾乎所有的測量應用。
儀器總放大倍數: 1650× 投影物鏡放大倍數: 18.75× 分劃板分劃值: 0.001mm 零件調節(jié)范圍: ±0.01mm 測量范圍: 外尺寸: 0~500mm 內尺寸: 13.5~300mm 使用大測勾: 26.5~200mm 使用小測勾: 13.5~26.5mm 工作臺橫向移動范圍: 不小于25mm 工作臺測微鼓分度值: 0.01mm
主要附件: 1. 內測裝置: 大測溝 一付 小測溝 一付 量塊架(擋塊) 一付 環(huán)規(guī) 一付 2. φ8平測帽: 二件 3. R20球面測帽: 二件 4. 中刃形測帽: 二件 (φ2平測帽,小刃形測帽,φ14平測帽選購件)
我們可為您加工訂做紅外窗口,石英窗口,氟化鈣(CaF2)窗口,硒化鋅(ZnSe)窗口,硅片等各種光學窗口
描述:8156A光學衰減器適用于快速的通信系統(tǒng)測量。可把它部署在研發(fā)和生產過程,適合應用單模和50m多模。用戶可選擇不同的回損性能、內置監(jiān)測路徑及整體精度,使8156A輕松滿足您的測量需求。
特性
60dB衰減,分辨率為0.001dB,無需測距
1200nm到1650nm的波長范圍
60dB回損
<±0.05dB典型線性
<±0.005dB典型重復性
<0.02dBpp典型從屬極化損耗
+23dBm最大輸入功率
v 瑞普高電子除了上述8156A 以外還能為客戶提供以下衰減器:
HA9
v 在提供有質量的二手測試儀器同時, 瑞普高電子還可以為貴公司提供測試儀器的維修,計量校準,租賃和回收服務等一系列的服務。更多咨詢請進:http:www.ruipugao.com
Features:
亞測(上海)儀器科技有限公司是德國KK/美國GE中國區(qū)域一級代理商,德國KK TIV光學硬度計為亞測(上海)儀器科技有限公司無損檢測事業(yè)部UT二級人員經常多次實驗測試,現場勘查,精心為您推薦的一款原裝進口光學硬度計,主要是對工件進行光學硬度分析。此款儀器精度高,易操作,讀數準確等特點。為廣大硬度測量使用者所青睞
德國KK公司便攜式TIV光學硬度計(Through Indenter Viewing通過壓痕觀察)通過一個特殊的光學系統(tǒng)和CCD鏡頭,將壓痕顯示在顯示屏上來測定測量的維氏硬度。雖然便攜式光學硬度計TIV并沒有同樣來自德國KK的超聲波硬度計MIC10DL功能強大,但作為硬度計來說,已經能夠出色地完成項目的檢測任務。
Through Indenter Viewing-通過壓痕觀察法:按照維氏硬度的光學測試方法,通過CCD鏡頭及光學系統(tǒng),自動或手動壓痕的對角線長度。可測量不同的材料,無需額外的校準。材料包括:鋼、非磁性金屬塑料、硬質合金、玻璃、陶瓷。
便攜式光學硬度計TIV光學硬度計產品特性:
便攜式光學硬度計TIV光學硬度計主要應用:
由于TIV不僅不受測試位置和測試角度的影響,也不受被測物的材料、大小和形狀的影響,因此可應用于在一些傳統(tǒng)的便攜式硬度計不能勝任的場合。常規(guī)的應用如下:- 熱處理行業(yè)。可方便快速地測量表面硬度,無需通過校準- 航空行業(yè)。可測量薄件和合金地硬度,無需額外地校準- 造幣廠。可測量硬幣地硬度- 測試單位。TIV是一款通用地便攜式硬度計- 實驗室和研究所。可觀察到壓痕的形成過程
德國KK TIV光學硬度計技術參數
探頭 測量范圍 顯示屏 操作語言 硬度制換算和分辨率 評估 自動關機 電池 操作系統(tǒng) 接口 操作溫度 存儲溫度 尺寸重量 | TIV105探頭,負載5kgf(50N),220x52mm TIV101探頭,負載1kg(10N),220x52mm 100HV~1000HV(配TIV105探頭) 30HV~500HV(配TIV101探頭) 1/4 VGA彩色TFT顯示屏,5.7"可視范圍,115.2x76.8mm,240x320象素,帶背光 德語、英語、法語 HV(1.0);HB(1.0);HS(1.0/0.5/0.1);HRC(1.0/0.5/0.1);HRB(1.0/0.5/0.1);N/mm2(5.0)。按照DIN 50150和ASTM E140自動換算 測試數據的曲線、直方圖和表格。計算統(tǒng)計值如平均值、標準偏差 可選擇自動關機時間。關機時回自動存儲測試數據和儀器設置 充電電池,可連續(xù)測試1000次。有低電壓指示 WinCE RS232 0~50℃ -20~70℃ 78x215x180mm,包括電池1.4kg |
亞測(上海)儀器科技有限公司是德國KK/美國GE中國區(qū)域一級代理商,現貨供應USN60超聲波探傷儀、USM35XS超聲波探傷儀、USM36超聲波探傷儀、USM GO超聲波探傷儀、USM88超聲波探傷儀、USM86超聲波探傷儀、Phasor XS相控陣探傷儀、USLT2000汽車點焊探傷儀、USLT USB汽車點焊探傷儀、MIC10超聲波硬度計、MIC20超聲波硬度計、TIV光學硬度計、DynaPOCKET袖珍型里氏硬度計,以及DMS GO超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀等系列產品,歡迎廣大新老客戶前來咨詢選購!18001735070
通過分析薄膜表面的反射光和薄膜與基底界面的反射光相干形成的反射譜,用相應的軟件來擬合運算,得到單層或多層膜系各層的厚度d,折射率n,消光系數k。該設備關鍵部件均為國外進口,也可根據客戶需要整機進口。
儀器特點
1 非接觸式測量,用光纖探頭來接收反射光,不會破壞和污染薄膜;
2 測量速度快,測量時間為秒的量級;
3 可用來測薄膜厚度,也可用來測量薄膜的折射率n和消光吸收k;
4 可測單層薄膜,還可測多層膜系;
5 可廣泛應用于各種介質,半導體,液晶等透明半透明薄膜材料;
6 軟件的材料庫中整合了大量材料的折射率和消光系數,可供用戶參考;
7 內嵌微型光纖光譜儀,結構緊湊, 光纖光譜儀也可單獨使用。
參數和性能指標
厚度范圍: 20nm-50um(只測膜厚),100nm-25um(同時測量膜厚和光學常數n,k)
度: <1nm或<0.5%
重復性: 0.1nm
波長范圍: 380nm-1000nm
可測層數: 1-4層
樣品尺寸: 樣品鍍膜區(qū)直徑>1.2mm
測量速度: 5s-60s
光斑直徑: 1.2mm-10mm可調
儀器成套性
測厚儀主體(內含光源和光纖光譜儀),光纖跳線,光纖探頭,標準硅片,支撐部件,配套軟件
可擴展性
通過光纖連接帶有C口的顯微鏡,就可以使本測量儀適用于微區(qū)(>10um)薄膜厚度的測量。
強大的軟件功能
界面友好,操作簡便;
可保存測量得到的反射譜;
可讀取保存的反射率數據;
可選擇是否測量折射率n,消光系數k;
可選擇光譜范圍;
可猜測薄膜厚度以節(jié)省測量時間;
可從大量的材料庫中選擇薄膜和基底的材料;
用戶可自己擴充材料庫。
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■特點:遠距離大表面檢測 檢測范圍1000mm LED指示器顯示檢測穩(wěn)定性 利用狹縫板可調節(jié)表面寬度 16位高精度大功率模式■說明:遠距離大面積檢測
表面光點檢測更為使用傳統(tǒng)的傳感器,當遠離目標或使用細微光點時檢測區(qū)焦點不能對準因而模糊不清。LV - H42解決了這些問題。 即使當傳感器離目標很遠,傳感器也能產生清晰的線狀光點。這樣即使檢測位置和目標形狀發(fā)生變化,檢測結果也能。
超緊湊型傳感器頭適用于任何地方雖然LV系列傳感器頭是半導體激光反射型的,但尺寸只有我們普通型的一半。
傳感器探頭安裝有LED指示器標明檢測穩(wěn)定性"LED指示器"是所有型號傳感器的標準部件,被用來標明檢測的穩(wěn)定性,操作狀態(tài)與穩(wěn)定性不用通過放大器就可以很容易地察看到。
半導體激光被用作光源利用半導體作為光源可使LV系列產品遠距離生成強烈的聚束光點。甚至當遠離目標時,LV系列產品也能精確地檢測和辨別,而利用發(fā)光二極管作為光源的傳感器不可能做到這一點。 ■應用: