比表面及孔徑分布分析儀產(chǎn)品及廠家
介孔分布測(cè)試儀bk200b完全獨(dú)立雙站并列分析，可同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)樣品的孔徑分析，及兩個(gè)樣品的脫氣處理，測(cè)試效率高； ●儀器設(shè)有兩個(gè)異位脫氣站，分析站同時(shí)具有同位脫氣功能，人性化設(shè)計(jì)；最高脫氣溫度400℃； ●雙站多點(diǎn)bet比表面測(cè)試，30分鐘內(nèi)可自動(dòng)完成；
更新時(shí)間:2024-10-16
langmuir比表面?比表面測(cè)試儀,真密度測(cè)試儀,比表面積及孔徑分析儀 ,蒸汽吸附儀 ,密度測(cè)試儀精微高博4月4日16:36訊langmuir比表面，比表面積測(cè)試儀及孔隙率測(cè)試儀的廠商,精微高博比表面積測(cè)定儀一并榮獲中國(guó)計(jì)量院測(cè)試證書,iso9001認(rèn)證及ce認(rèn)證并且還有獨(dú)家的專利產(chǎn)品是通過國(guó)家級(jí)高新技術(shù)企業(yè)精微高博langmuir比表面，比表面積測(cè)試儀及孔隙率測(cè)試儀具有真空系統(tǒng)，可以進(jìn)行精確的超微孔孔徑分布測(cè)試。langmuir比表面，比表面積測(cè)試儀及孔隙率測(cè)試儀功能比表面測(cè)定： bet（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面、langmuir比表面、外表面測(cè)定；bjh孔徑分布測(cè)定： 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；微孔常規(guī)分析： 微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、d&r、mp等）微孔孔徑分布分析： 氮分壓10-8 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測(cè)定
更新時(shí)間:2024-10-16
動(dòng)態(tài)比表面積及孔徑測(cè)試儀jw-004（a）以氮?dú)鉃槲劫|(zhì)，氦氣為載氣，兩種氣體按指定比例混合，達(dá)到一定的氮?dú)夥謮海屵@種氣體流經(jīng)裝有粉末樣品的樣品管，當(dāng)樣品管置于液氮溫度時(shí)，氮?dú)庠跇悠繁砻娈a(chǎn)生物理吸附，而氦氣不被吸附，這時(shí)氣流中氮?dú)獾臐舛葴p少,在濃度傳感器上（熱導(dǎo)檢測(cè)器）產(chǎn)生電信號(hào)，形成一個(gè)所謂的氮?dú)馕椒?/div>
更新時(shí)間:2024-10-16
比表面及總孔體積測(cè)量?jī)xjw-bk應(yīng)用領(lǐng)域： 催化劑，廣泛用于石化、化工、醫(yī)藥、食品、農(nóng)業(yè)、精細(xì)化工等領(lǐng)域；吸附劑，如活性炭、分子篩、活性氧化鋁等，廣泛用于環(huán)保領(lǐng)域；顏填料，無機(jī)顏料、碳酸鈣、氧化鋅、氧化硅、礦物粉等；陶瓷材料原料，氧化鋁、氧化鋯、氧化釔、氮化硅、碳化硅等；炭黑、白炭黑、納米碳酸鈣等用于橡塑材料的補(bǔ)強(qiáng)劑等；
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比表面及孔容積測(cè)量?jī)xjw-bk是北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司獨(dú)自開發(fā)設(shè)計(jì)、生產(chǎn)制造與銷售的儀器，本公司有靜態(tài)容量法和動(dòng)態(tài)色譜法兩大類六種型號(hào)，靜態(tài)容量法比表面及孔容積測(cè)量?jī)x是與國(guó)外同類產(chǎn)品相同質(zhì)量和功能的儀器。
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靜態(tài)比表面積及孔結(jié)構(gòu)分析儀jw-bk是在一個(gè)密閉的系統(tǒng)中，改變粉體樣品表面的氮分壓，在液氮溫度下產(chǎn)生吸附或脫附，再根據(jù)氣體狀態(tài)方程計(jì)算出氣體的吸附量或脫附量。
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經(jīng)典型比表面及孔徑分析儀bk112等溫吸脫附曲線；單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積；langmuir比表面積；外表面積（stsa）；單點(diǎn)吸附總孔體積、平均孔徑；bjh介孔大孔孔容積及孔徑分布分析；t-plot法、as- plot法、dr法、mp法微孔常規(guī)分析；平均粒徑估算； 特殊功能：nldft法孔徑分布分析；真密度精確測(cè)試；氣體吸附量、吸附熱測(cè)試；質(zhì)量輸入法測(cè)試；
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bet比表面及總孔體積測(cè)試儀主要功能：可實(shí)行bet比表面（多點(diǎn)及單點(diǎn)）測(cè)試，langmuir比表面測(cè)試，炭黑外比表面測(cè)試，吸附、脫附等溫曲線測(cè)試， bjh孔徑分布、總孔體積和平均孔徑測(cè)定；
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比表面及總孔體積測(cè)試儀可實(shí)行bet比表面（多點(diǎn)及單點(diǎn)）測(cè)試，langmuir比表面測(cè)試，炭黑外比表面測(cè)試，吸附、脫附等溫曲線測(cè)試， bjh孔徑分布、總孔體積和平均孔徑測(cè)定； 真空系統(tǒng)：極限真空度6×10-2 pa 測(cè)量范圍：比表面 ≥0.01m2/g 至無規(guī)定上限，孔尺寸 0.7~ 400nm ;
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比表面積及總孔體積測(cè)試儀jw-bk在windows平臺(tái)上，提供過程控制和數(shù)據(jù)采集、處理、報(bào)告系統(tǒng)，多種測(cè)試方法可自由方便選擇，在計(jì)算機(jī)屏幕上，同步顯示吸、脫附，比表面及微孔分布測(cè)量?jī)x測(cè)試過程、可隨時(shí)查看已完成部分的測(cè)試數(shù)據(jù)；本機(jī)軟件功能強(qiáng)大、界面友好、兼容性高、使用方便；
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比表面積及總孔體積測(cè)量?jī)x在windows平臺(tái)上，提供過程控制和數(shù)據(jù)采集、處理、報(bào)告系統(tǒng)，多種測(cè)試方法可自由方便選擇，在計(jì)算機(jī)屏幕上，同步顯示吸、脫附，比表面及微孔分布測(cè)量?jī)x測(cè)試過程、可隨時(shí)查看已完成部分的測(cè)試數(shù)據(jù)；本機(jī)軟件功能強(qiáng)大、界面友好、兼容性高、使用方便；
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比表面及介孔分析儀測(cè)試精度：≤± 1.0%（比表面）；≤0.02nm（最可幾孔徑）；測(cè)試氣體：高純氮?dú)猓?9.999%），或其它氣體(如ar、kr、ch4、co2等)；測(cè)試范圍：0.005(m2/g)--至無上限(比表面積)；2nm-500nm(介孔及大孔分析)； 0.35nm-2nm(微孔常規(guī)分析)；
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bet比表面及孔徑分布測(cè)定儀雙樣品連續(xù)測(cè)試，速度快、線性好、精度高，多點(diǎn)bet比表面測(cè)試每樣平均15分鐘。
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比表面測(cè)試儀bet（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，langmuir比表面，外表面測(cè)定；bjh孔徑分布測(cè)定： 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；微孔常規(guī)分析： 微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、d&r、mp等）
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全自動(dòng)靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀是超細(xì)粉體材料體別是納米材料最重要的物性之一。測(cè)定比表面的方法很多，其中氮吸附法是最常用、最可靠的方法，已列入國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和我國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。
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氮吸附比表面及孔隙率測(cè)定儀，比表面及孔徑分布測(cè)試儀，孔隙度測(cè)試儀集比表面積、微孔及介孔多種測(cè)試功能于一體，全面的測(cè)試解決方案；采用原裝進(jìn)口真空泵，系統(tǒng)極限真空度達(dá)到4.0×10-2pa，適合于長(zhǎng)期連續(xù)使用；
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比表面及微孔分析儀原理方法：氣體吸附法，靜態(tài)容量法；測(cè)試功能：等溫吸脫附曲線；單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積；langmuir比表面積；外表面積（stsa）；單點(diǎn)吸附總孔體積、平均孔徑；bjh介孔大孔孔容積及孔徑分布分析；t-plot法、as- plot法、dr法、mp法微孔常規(guī)分析；
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比表面積及孔結(jié)構(gòu)分布儀，比表面積及孔徑分析儀，比表面積分析儀具有專用軟件功能齊全、界面友好、操作方便、實(shí)時(shí)顯示樣品吸、脫附壓力變化及平衡過程；
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比表面積及孔徑分布測(cè)試儀，微孔分析儀，孔徑分析測(cè)試儀控制精度： 測(cè)試壓力點(diǎn)控制最小間隔可小于0.1 kpa （0.75 torr），測(cè)試點(diǎn)可多達(dá)一千個(gè)。 10-7-10-1范圍測(cè)試壓力點(diǎn)大于50點(diǎn)
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比表面及孔徑分析儀原理方法： 低溫氮吸附，靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析儀吸附氣體： 高純氮?dú)猓部捎秒础⒑ぁ⒍趸嫉绕渌麣怏w，極限真空： ≤ 10-6 pa （ 7.5×10-9 torr）氮?dú)夥謮海? 1×10-8 –0.995控制精度： 測(cè)試壓力點(diǎn)控制最小間隔可小于0.1 kpa （0.75 torr） ，測(cè)試壓力點(diǎn)可多達(dá)一千個(gè)
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全自動(dòng)比表面積儀，比表面積測(cè)試儀，比表面積及孔隙率測(cè)試儀bet（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，langmuir比表面，外表面測(cè)定；bjh孔徑分布測(cè)定： 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；微孔常規(guī)分析： 微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、d&r、mp等）
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四站并行式全自動(dòng)比表面及孔徑分析儀完全獨(dú)立四站并列分析，可同位脫氣，可同時(shí)進(jìn)行四個(gè)樣品的孔徑分析及脫氣處理，測(cè)試效率超高；●外置4位脫氣站，專用機(jī)械真空泵，最高脫氣溫度400℃；●四個(gè)樣品的多點(diǎn)bet比表面測(cè)試，30分鐘內(nèi)可自動(dòng)完成；
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比表面及微孔分布測(cè)試儀具有2個(gè)樣品分析站（同時(shí)進(jìn)行1個(gè)樣品分析），均可同位脫氣處理，且兩站可同時(shí)進(jìn)行脫氣工作，可程序升溫控制脫氣速度，脫氣溫度最高可達(dá)400℃。全新的多功能軟件操作系統(tǒng)，支持windows 7/xp系統(tǒng)，超高速lan口連接。該儀器同時(shí)具備真密度測(cè)試功能（專利技術(shù)），及密度輸入法比表面孔徑測(cè)試功能，可供大家選擇。
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比表面及介孔分布測(cè)定儀重要硬件全部采用國(guó)際先進(jìn)品牌，產(chǎn)品綜合性能完善，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性、精確性、穩(wěn)定性完全達(dá)到進(jìn)口同等儀器水平，性價(jià)比極高，非常適合中大型企事業(yè)單位納米粉體材料介孔大孔的快速檢測(cè)。
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全自動(dòng)孔徑分布測(cè)試儀是jw-bk222儀器升級(jí)后的一款多功能型、高效型物理吸附儀，集同位異位脫氣于一體，雙站并列獨(dú)立運(yùn)行。
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比表面及孔徑分析儀等溫吸脫附曲線；單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積；langmuir比表面積；外表面積（stsa）；單點(diǎn)吸附總孔體積、平均孔徑；bjh介孔大孔孔容積及孔徑分布分析；
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比表面及微孔分析儀配備有“二級(jí)吸附泵技術(shù)”及小量程壓力傳感器，配合微孔分析模型的準(zhǔn)確應(yīng)用，完全實(shí)現(xiàn)了微孔的精確分析，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性、精確性、穩(wěn)定性完全達(dá)到進(jìn)口同類儀器水平，性價(jià)比極高，非常適合各大企事業(yè)單位納米粉體材料微孔、介孔、大孔的研發(fā)及生產(chǎn)檢測(cè)。
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三站并列式全自動(dòng)介孔微孔分析儀在jw系列孔徑分析儀的基礎(chǔ)上，自主研發(fā)的新一代高端微孔分析儀。該款儀器核心硬件全部采用國(guó)際先進(jìn)品牌
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雙站比表面及微孔分析儀jw-bk200c.配備有“渦輪分子泵”及1torr小量程壓力傳感器，配合微孔分析模型的準(zhǔn)確應(yīng)用，完全實(shí)現(xiàn)了微孔的精確分析，氮吸附微孔最小孔徑實(shí)際可測(cè)達(dá)0.35nm，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性、精確性、穩(wěn)定性完全達(dá)到進(jìn)口同類儀器水平，性價(jià)比極高，非常適合活性炭、活性氧化鋁、分子篩、沸石、mof材料等超微孔納米粉體材料的研究。
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比表面積及介孔分析儀測(cè)試功能：等溫吸脫附曲線；單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積；langmuir比表面積；外表面積（stsa）；單點(diǎn)吸附總孔體積、平均孔徑；bjh介孔大孔孔容積及孔徑分布分析；t-plot法、as- plot法、dr法、mp法微孔常規(guī)分析；平均粒徑估算； 特殊功能：nldft法孔徑分布分析；真密度精確測(cè)試；氣體吸附量、吸附熱測(cè)試；質(zhì)量輸入法測(cè)試；
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高精密三站并列式全自動(dòng)介孔微孔分析儀應(yīng)用領(lǐng)域：●催化劑材料：活性氧化鋁、分子篩、沸石等； ●環(huán)保領(lǐng)域：活性炭等吸附劑； ●納米材料：納米陶瓷粉體（氧化鋁、氧化鋯、氧化釔、氮化硅、 碳化硅等）、納米金屬粉體（銀粉、鐵粉、銅粉、鎢粉、鎳粉 等）、納米高分子材料、碳納米管等； ●煤礦行業(yè)：煤、礦石、巖石、頁巖氣、煤層氣等；
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精微高博jw-bk200c比表面及孔徑分析儀核心硬件全部采用國(guó)際先進(jìn)品牌，配備有“渦輪分子泵”及1torr小量程壓力傳感器，配合微孔分析模型的準(zhǔn)確應(yīng)用，完全實(shí)現(xiàn)了微孔的精確分析，氮吸附微孔最小孔徑實(shí)際可測(cè)達(dá)0.35nm，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性、精確性、穩(wěn)定性完全達(dá)到進(jìn)口同類儀器水平，性價(jià)比極高，非常適合活性炭、活性氧化鋁、分子篩、沸石、mof材料等超微孔納米粉體材料的研究。
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微孔孔徑分布測(cè)試儀測(cè)定： bet（單點(diǎn)、多點(diǎn)）比表面，langmuir比表面，外表面測(cè)定；bjh孔徑分布測(cè)定： 總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布；微孔常規(guī)分析： 微孔總孔體積、總內(nèi)表面積（t-圖、d&r、mp等）真密度測(cè)定
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比表面積及微孔孔徑分布測(cè)試儀兩個(gè)測(cè)試位可同時(shí)進(jìn)行同位脫氣處理，脫氣效率高； ●儀器設(shè)有兩個(gè)異位脫氣站，分析站同時(shí)具有同位脫氣功能，人性化設(shè)計(jì)；最高脫氣溫度400℃； ●多點(diǎn)bet比表面測(cè)試，30分鐘內(nèi)可自動(dòng)完成；
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經(jīng)濟(jì)型靜態(tài)比表面及微孔分析儀配備有“二級(jí)吸附泵技術(shù)”及小量程壓力傳感器，配合微孔分析模型的準(zhǔn)確應(yīng)用，完全實(shí)現(xiàn)了微孔的精確分析，測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性、精確性、穩(wěn)定性完全達(dá)到進(jìn)口同類儀器水平，性價(jià)比極高，非常適合各大企事業(yè)單位納米粉體材料微孔、介孔、大孔的研發(fā)及生產(chǎn)檢測(cè)。
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比表面及孔徑分布測(cè)試儀測(cè)試功能：等溫吸脫附曲線；單點(diǎn)、多點(diǎn)bet比表面積；langmuir比表面積；外表面積（stsa）；單點(diǎn)吸附總孔體積、平均孔徑；bjh介孔大孔孔容積及孔徑分布分析；t-plot法、as- plot法、dr法、mp法微孔常規(guī)分析；平均粒徑估算； 特殊功能：nldft法孔徑分布分析；真密度精確測(cè)試；氣體吸附量、吸附熱測(cè)試；質(zhì)量輸入法測(cè)試；
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ssa-6000是款應(yīng)用于微孔、介孔、大孔納米材料的多分析站全自動(dòng)物理吸附分析儀；擁有先進(jìn)的技術(shù)、卓越的品質(zhì)、更全面的理論模型，具有超高的穩(wěn)定性和重復(fù)性。
更新時(shí)間:2024-10-16
◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析；◆ 高通量分析：多同時(shí)分析12個(gè)樣品；◆ 真正全自動(dòng)：脫氣→測(cè)試，全自動(dòng)切換，無需人為干預(yù)；
更新時(shí)間:2024-10-16
◆ 具有2/4個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站。 ◆ 1/2/4個(gè)樣品分析站。 ◆ 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 ◆ 重復(fù)性誤差小于±1%。 ◆ 測(cè)試范圍：比表面0.0001m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。
更新時(shí)間:2024-10-16
◆ 測(cè)試功能：比表面積，孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)◆ 吸附質(zhì)種類：各種非腐蝕性氣體測(cè)試◆ 測(cè)試范圍：比表面積0.0005㎡/g以上，孔徑0.35-500nm◆ 分析位數(shù)量：1/2個(gè)分析位；
更新時(shí)間:2024-10-16
◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動(dòng)：脫氣→測(cè)試，全自動(dòng)切換，無需人為干預(yù)
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◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動(dòng)：脫氣→測(cè)試，全自動(dòng)切換，無需人為干預(yù)
更新時(shí)間:2024-10-16
◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動(dòng)：脫氣→測(cè)試，全自動(dòng)切換，無需人為干預(yù)
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◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動(dòng)：脫氣→測(cè)試，全自動(dòng)切換，無需人為干預(yù)
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◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動(dòng)：脫氣→測(cè)試，全自動(dòng)切換，無需人為干預(yù)
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氣體吸附法比表面積及孔徑分布（孔隙度）測(cè)試中，有幾個(gè)因素對(duì)測(cè)試過程和結(jié)果會(huì)產(chǎn)生非常重要的影響。
更新時(shí)間:2024-10-16
氣體吸附法比表面積及孔徑分布（孔隙度）測(cè)試中，有幾個(gè)因素對(duì)測(cè)試過程和結(jié)果會(huì)產(chǎn)生非常重要的影響。
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比表面積及孔徑分布，是表征微納米粉體材料表面物性及孔結(jié)構(gòu)的重要參數(shù)之一，最常用、最可靠的方法是靜態(tài)容量法氣體吸附。
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最新產(chǎn)品
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